Rof 전기광학 변조기 1550nm 위상 변조기 20G 리튬 니오베이트 변조기
특징
⚫ 대역폭 ~20GHz
⚫ 낮은 반파전압
⚫ 높은 손상 광 파워
⚫ 낮은 삽입 손실
애플리케이션
⚫ 광섬유 센싱
⚫ 광섬유 통신
⚫ 레이저 코히어런트 합성
⚫ 위상 지연(방향 변환기)
⚫ 양자 통신
⚫ ROF 시스템
매개변수
| 매개변수 | 상징 | 민 | 유형 | 맥스 | 단위 | ||
| 광학적 매개변수 | |||||||
| 운영파장 | l | 1530 | 1550 | 1565 | nm | ||
| 삽입 손실 | IL | 3 | 3.5 | dB | |||
| 광 반사 손실 | ORL | -45 | dB | ||||
| 편광 소광비 | 당 | 20 | dB | ||||
| 광섬유 | 입력포트 | PM 파이버(125/250μm) | |||||
| 산출포트 | PM 파이버(125/250μm) | ||||||
| 광섬유 인터페이스 | FC/PC、FC/APC 또는 맞춤형 | ||||||
| 전기적 매개변수 | |||||||
| 운영대역폭（-3dB） | S21 | 18 | 20 | GHz | |||
| 반파전압 @50KHz | VΠ |
| 3.5 | 4 | V | ||
| 전기 같은al반사 손실 | S11 | -12 | -10 | dB | |||
| 입력 임피던스 | ZRF | 50 | W | ||||
| 전기 인터페이스 | 케이(f) | ||||||
한계 조건
| 매개변수 | 상징 | 단위 | 민 | 유형 | 맥스 |
| 입력 광 전력 | P맥스에서 | 데시엠 | 17 | ||
| I입력 RF 전력 | 데시엠 | 33 | |||
| 운영온도 | 맨 위 | ℃ | -10 | 60 | |
| 보관 온도 | 티에스트 | ℃ | -40 | 85 | |
| 습기 | RH | % | 5 | 90 |
특성 곡선
기계 다이어그램(mm)
R-PM
R-PM
주문 정보
| 로프 | PM | 15 | 10G | XX | XX |
| 유형: PM---위상 변조기 | 파장: 07---780nm 08---850nm 10---1060nm 13---1310nm 15---1550nm | 작동 대역폭： 300M---300MHz 10G---10GHz 20G---20GHz 40G---40GHz
| 인-아웃 파이버 유형: PP---오후/오후 PS---PM/SMF SS---SMF/SMF
| 광 커넥터： FA---FC/APC FP---FC/PC SP---맞춤형 |
* 특별한 요구 사항이 있으시면 영업팀에 문의해 주세요.
| 포트 | 상징 | 메모 |
| ~ 안에 | 광 입력 포트 | PM 파이버 및 SM 파이버 옵션 |
| 밖으로 | 광 출력 포트 | PM 파이버 및 SM 파이버 옵션 |
| RF | RF 입력 포트 | 케이(f) |
| 편견 | 바이어스 제어 포트 | 1,2,3,4-N/C (바이어스 옵션) |
회사 소개
Rofea Optoelectronics는 전자 광학 변조기, 위상 변조기, 광 검출기, 레이저 소스, DFB 레이저, 광 증폭기, EDFA, SLD 레이저, QPSK 변조, 펄스 레이저, 광 검출기, 평형 광 검출기, 반도체 레이저, 레이저 드라이버, 파이버 커플러, 펄스 레이저, 파이버 증폭기, 광 파워 미터, 광대역 레이저, 가변 레이저, 광 지연 회선, 전자 광학 변조기, 광 검출기, 레이저 다이오드 드라이버, 파이버 증폭기, 에르븀 첨가 파이버 증폭기 및 레이저 광원을 포함한 다양한 상용 제품을 제공합니다.
Rofea Optoelectronics는 상업용 전기광학 변조기, 위상 변조기, 세기 변조기, 광검출기, 레이저 광원, DFB 레이저, 광 증폭기, EDFA, SLD 레이저, QPSK 변조, 펄스 레이저, 광검출기, 평형 광검출기, 레이저 드라이버, 광섬유 증폭기, 광 파워 미터, 광대역 레이저, 가변 파장 레이저, 광 검출기, 레이저 다이오드 드라이버, 광섬유 증폭기 등의 제품군을 제공합니다. 또한, 1x4 어레이 위상 변조기, 초저 Vpi, 초고 소광비 변조기 등 맞춤형으로 제작 가능한 다양한 특수 변조기를 제공하며, 이러한 변조기는 주로 대학 및 연구소에서 사용됩니다.
저희의 제품이 여러분과 여러분의 연구에 도움이 되기를 바랍니다.
